IEC 62951-1:2017
Полупроводниковые приборы. Гибкие и растяжимые полупроводниковые приборы. Часть 1. Метод испытания на изгиб проводящих тонких пленок на гибких подложках.

Стандартный №

IEC 62951-1:2017

Дата публикации

2017

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

Последняя версия

IEC 62951-1:2017

заменять

IEC 47/2369/FDIS:2017

сфера применения

Эта часть IEC 62951 определяет метод испытаний на изгиб для измерения электромеханических свойств или гибкости проводящих тонких пленок, нанесенных или прикрепленных к гибким непроводящим подложкам. Тонкие проводящие пленки на гибких подложках широко используются в гибких электронных устройствах и гибких полупроводниках. Проводящие тонкие пленки включают любые пленки, нанесенные или прикрепленные к непроводящей гибкой подложке, такой как тонкая металлическая пленка, прозрачный проводящий электрод и тонкая кремниевая пленка. Электрическое и механическое поведение тонких пленок на гибких подложках отличается от поведения отдельно стоящих пленок и подложек из-за их межфазных взаимодействий и адгезии между пленкой и подложкой. Целью настоящего стандарта является установление простых и воспроизводимых методов испытаний для оценки электромеханических свойств или гибкости проводящих тонких пленок на гибкой подложке. Методы испытаний на изгиб включают испытание на внешний изгиб и испытание на внутренний изгиб.

IEC 62951-1:2017 Ссылочный документ

• IEC 62047-22:2014 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 22. Метод электромеханического испытания на растяжение проводящих тонких пленок на гибких подложках.
• IEC 62047-2:2006 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 2. Метод испытания тонкопленочных материалов на растяжение.

IEC 62951-1:2017 История

• 2017 IEC 62951-1:2017 Полупроводниковые приборы. Гибкие и растяжимые полупроводниковые приборы. Часть 1. Метод испытания на изгиб проводящих тонких пленок на гибких подложках.