BS EN 62435-5:2017 Электронные компоненты - Долговременное хранение электронных полупроводниковых приборов. - Часть 5: Устройства на кристаллах и пластинах. - Стандарты и спецификации PDF

BS EN 62435-5:2017
Электронные компоненты - Долговременное хранение электронных полупроводниковых приборов. - Часть 5: Устройства на кристаллах и пластинах.

Стандартный №
BS EN 62435-5:2017
Дата публикации
2017
Разместил
British Standards Institution (BSI)
Последняя версия
BS EN 62435-5:2017

BS EN 62435-5:2017 Ссылочный документ

  • CLC/TR 62258-3 Полупроводниковые кристаллы. Часть 3. Рекомендации по надлежащей практике обращения, упаковки и хранения.
  • EN 60749-20-1 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 20-1. Обращение, упаковка, маркировка и транспортировка устройств для поверхностного монтажа, чувствительных к комбинированному воздействию влаги и тепла при пайке.
  • EN 60749-3 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр.*2017-06-01 Обновление
  • EN 61340-2-1 Электростатика. Часть 2-1. Методы измерения. Способность материалов и изделий рассеивать статический электрический заряд.
  • EN 61340-5-1 Электростатика. Часть 5-1. Защита электронных устройств от электростатических явлений. Общие требования*2017-05-26 Обновление
  • EN 62435-1 Электронные компоненты. Долговременное хранение электронных полупроводниковых приборов. Часть 1. Общие сведения.
  • EN 62435-2 Электронные компоненты. Длительное хранение электронных полупроводниковых приборов. Часть 2. Механизмы разрушения.
  • IEC 60749-20-1 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 20-1. Обращение, упаковка, маркировка и транспортировка устройств поверхностного монтажа, чувствительных к комбинированному воздействию влаги и пайки.*2019-06-26 Обновление
  • IEC 60749-3 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр.
  • IEC 61340-2-1 Поправка 1. Электростатика. Часть 2-1. Методы измерения. Способность материалов и изделий рассеивать статический электрический заряд.*2022-01-01 Обновление
  • IEC 61340-5-1 Электростатика. Часть 5-1. Защита электронных устройств от электростатических явлений. Общие требования; Исправление 1*2017-05-01 Обновление
  • IEC 62435-1 Электронные компоненты. Долговременное хранение электронных полупроводниковых приборов. Часть 1. Общие сведения.
  • IEC 62435-2 Электронные компоненты. Длительное хранение электронных полупроводниковых приборов. Часть 2. Механизмы разрушения.
  • IEC 62435-4 Электронные компоненты. Долговременное хранение электронных полупроводниковых приборов. Часть 4. Хранение.*2018-06-01 Обновление
  • JEDEC JESD22-B116 Метод испытаний B116: Испытание на сдвиг проволочной связки
  • JEDEC JESD22-B118 Внешний визуальный осмотр полупроводниковых пластин и кристаллов

BS EN 62435-5:2017 История

  • 2017 BS EN 62435-5:2017 Электронные компоненты - Долговременное хранение электронных полупроводниковых приборов. - Часть 5: Устройства на кристаллах и пластинах.



© 2023. Все права защищены.