IEC 60749-3:2017
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр.

Стандартный №

IEC 60749-3:2017

Дата публикации

2017

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

Последняя версия

IEC 60749-3:2017

сфера применения

Целью данной части МЭК 60749 является проверка того, что материалы@дизайн@конструкция@маркировка@ и качество изготовления полупроводникового устройства соответствуют применимому документу на закупку. Внешний визуальный осмотр является неразрушающим испытанием и применим для всей упаковки. Испытание полезно для квалификации@ контроля процесса@ или приемки партии.

IEC 60749-3:2017 История

• 2017 IEC 60749-3:2017 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр.
• 2003 IEC 60749-3:2002/COR1:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр.
• 2002 IEC 60749-3:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр.