IEC 62435-2:2017 Электронные компоненты. Длительное хранение электронных полупроводниковых приборов. Часть 2. Механизмы разрушения.

сфера применения: Эта часть IEC 62435 связана с механизмами износа и касается того, как компоненты деградируют с течением времени в зависимости от применяемых условий хранения. Эта часть также включает руководство по методам испытаний, которые можно использовать для оценки общих механизмов разрушения. Обычно эта часть используется в сочетании со стандартом IEC 62435-1 для любого устройства, предназначенного для длительного хранения, продолжительность которого может превышать 12 месяцев для продукта, предназначенного для длительного хранения. Механизмы, применимые к конкретным типам компонентов, подробно описаны в стандартах от IEC 62435-5 до IEC 62435-9 (предлагается).

IEC 62435-2:2017 Ссылочный документ

IEC 60749-20-1:2009 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 20-1. Обращение, упаковка, маркировка и транспортировка устройств для поверхностного монтажа, чувствительных к комбинированному воздействию влаги и тепла при пайке.

2017 IEC 62435-2:2017 Электронные компоненты. Длительное хранение электронных полупроводниковых приборов. Часть 2. Механизмы разрушения.