GB/T 5594.4-2015
Методы испытаний свойств структурной керамики, используемой в электронных компонентах и устройствах. Часть 4: Метод испытаний диэлектрической проницаемости и значения тангенса угла диэлектрических потерь. (Англоязычная версия)

Стандартный №

GB/T 5594.4-2015

язык

Китайский, Доступно на английском

Дата публикации

2015

Разместил

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

Последняя версия

GB/T 5594.4-2015

заменять

GB/T 5594.4-1985

сфера применения

This part of GB/T 5594 specifies the test methods for the dielectric constant and dielectric loss tangent of electronic ceramic materials used in device parts, vacuum electronic devices, resistor substrates, semiconductors and integrated circuit substrates. This part applies to the dielectric constant and dielectric loss tangent of electronic ceramic materials used in device parts, vacuum electronic devices, resistance substrates, semiconductors and integrated circuit substrates at a frequency of 1 MHz and a temperature ranging from room temperature to 500 °C. test.

GB/T 5594.4-2015 Ссылочный документ

• GB/T 5593-2015 Структурные керамические материалы, используемые в электронных компонентах и устройствах
• GB/T 9530-1988 Условия для электронной керамики

GB/T 5594.4-2015 История

• 2015 GB/T 5594.4-2015 Методы испытаний свойств структурной керамики, используемой в электронных компонентах и устройствах. Часть 4: Метод испытаний диэлектрической проницаемости и значения тангенса угла диэлектрических потерь.
• 1985 GB/T 5594.4-1985 Методы испытаний свойств структурной керамики, используемой в электронных компонентах. Метод испытания значения тангенса угла диэлектрических потерь.

GB/T 5594.4-2015 - Все части