GB/T 5594.3-2015 (Англоязычная версия) Методы испытаний свойств структурной керамики, используемой в электронных компонентах и устройствах. Часть 3: Метод испытания среднего коэффициента линейного расширения. - Стандарты и спецификации PDF

GB/T 5594.3-2015
Методы испытаний свойств структурной керамики, используемой в электронных компонентах и устройствах. Часть 3: Метод испытания среднего коэффициента линейного расширения. (Англоязычная версия)

Стандартный №
GB/T 5594.3-2015
язык
Китайский, Доступно на английском
Дата публикации
2015
Разместил
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Последняя версия
GB/T 5594.3-2015
заменять
GB/T 5594.3-1985
сфера применения
В этой части GB/T 5594 указаны образец, испытательное оборудование, метод испытаний и формат отчета для испытания среднего коэффициента линейного расширения керамических материалов. Этот раздел относится к испытанию среднего коэффициента линейного расширения конструкционных керамических материалов для электронных компонентов.

GB/T 5594.3-2015 Ссылочный документ

  • GB/T 5593-2015 Структурные керамические материалы, используемые в электронных компонентах и устройствах
  • GB/T 9530-1988 Условия для электронной керамики

GB/T 5594.3-2015 История

  • 2015 GB/T 5594.3-2015 Методы испытаний свойств структурной керамики, используемой в электронных компонентах и устройствах. Часть 3: Метод испытания среднего коэффициента линейного расширения.
  • 1985 GB/T 5594.3-1985 Методы испытаний свойств структурной керамики, используемой в электронных компонентах. Метод испытания среднего коэффициента линейного расширения.

GB/T 5594.3-2015 - Все части

GB/T 5594.1-1985 Методы испытаний свойств конструкционной керамики, используемой в электронных компонентах. Метод испытания на газонепроницаемость GB/T 5594.2-1985 Методы испытаний свойств структурной керамики, используемой в электронных компонентах. Метод испытания модуля упругости Юнга и коэффициента Пуассона. GB/T 5594.3-2015 Методы испытаний свойств структурной керамики, используемой в электронных компонентах и устройствах. Часть 3: Метод испытания среднего коэффициента линейного расширения. GB/T 5594.4-2015 Методы испытаний свойств структурной керамики, используемой в электронных компонентах и устройствах. Часть 4: Метод испытаний диэлектрической проницаемости и значения тангенса угла диэлектрических потерь. GB/T 5594.5-1985 Методы испытаний свойств структурной керамики, используемой в электронных компонентах. Метод испытания объемного удельного сопротивления. GB/T 5594.6-2015 Методы испытаний свойств структурной керамики, используемой в электронных компонентах и устройствах. Часть 6: Метод испытания на химическую стойкость. GB/T 5594.7-2015 Методы испытаний свойств структурной керамики, используемой в электронных компонентах и устройствах. Часть 7: Метод испытания на проницаемость для жидкостей. GB/T 5594.8-2015 Методы испытания свойств структурной керамики, используемой в электронных компонентах и устройствах. Часть 8: Метод испытания микроструктуры



© 2023. Все права защищены.