GB/T 5594.4-1985 Методы испытаний свойств структурной керамики, используемой в электронных компонентах. Метод испытания значения тангенса угла диэлектрических потерь. (Англоязычная версия)
Настоящий стандарт применим для определения значения тангенса угла диэлектрических потерь конструкционных керамических материалов для электронных компонентов при частоте 1 МГц и температуре от комнатной температуры до 500 °С.
GB/T 5594.4-1985 История
2015GB/T 5594.4-2015 Методы испытаний свойств структурной керамики, используемой в электронных компонентах и устройствах. Часть 4: Метод испытаний диэлектрической проницаемости и значения тангенса угла диэлектрических потерь.
1985GB/T 5594.4-1985 Методы испытаний свойств структурной керамики, используемой в электронных компонентах. Метод испытания значения тангенса угла диэлектрических потерь.