BS EN 62149-2:2014 Оптоволоконные активные компоненты и устройства. Стандарты производительности. Лазерные устройства поверхностного излучения с дискретным вертикальным резонатором, длина волны 850 нм

Стандартный №: BS EN 62149-2:2014
Дата публикации: 2014
Разместил: British Standards Institution (BSI)
Последняя версия: BS EN 62149-2:2014
заменять: BS EN 62149-2:2009

BS EN 62149-2:2014 Ссылочный документ

EN 60191 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 6. Общие правила составления габаритных чертежей корпусов полупроводниковых приборов поверхностного монтажа.
EN 60747-5-1 Дискретные полупроводниковые устройства и интегральные схемы. Часть 5-1. Оптоэлектронные устройства. Общие положения (включая поправки A1:2002 + A2:2002) (IEC 60747-5-1:1997 + A1:2001 + A2:2002)
EN 60749 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний (включает поправки A1: 2000 г. и A2: 2001 г.)
EN 60749-6 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре.*， 2017-06-16 Обновление
EN 60749-7 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 7. Измерение внутренней влажности и анализ других остаточных газов.
EN 60825 Радиационная безопасность лазерных изделий@ Классификация оборудования@ Требования и руководство пользователя
EN 60825-1 Безопасность лазерной продукции. Часть 1. Классификация оборудования и требования.*， 2019-03-01 Обновление
EN 60950-1 Оборудование информационных технологий. Безопасность. Часть 1. Общие требования. Включает поправку A1: 2010 г.
EN 61300-2-4 Волоконно-оптические соединительные устройства и пассивные компоненты. Основные процедуры испытаний и измерений. Часть 2-4. Испытания — удержание волокна/кабеля
IEC 60191 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Часть 6. Общие правила составления габаритных чертежей корпусов полупроводниковых приборов поверхностного монтажа.
IEC 60747-5-1 Дискретные полупроводниковые приборы и интегральные схемы. Часть 5-1. Оптоэлектронные устройства; Общий
IEC 60749 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний
IEC 60749-6 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре.*， 2017-03-01 Обновление
IEC 60749-7 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 7. Измерение внутренней влажности и анализ других остаточных газов.
IEC 60825 Безопасность лазерных изделий – ВСЕ ЧАСТИ*， 2023-05-25 Обновление
IEC 60825-1 Лист интерпретации 2. Безопасность лазерных изделий. Часть 1. Классификация оборудования и требования.*， 2017-12-19 Обновление
IEC 60874 Разъемы для оптоволокна и кабелей; часть 9: спецификация сечения оптоволоконного разъема; тип ОФ-2
IEC 60950-1 Оборудование информационных технологий. Безопасность. Часть 1. Общие требования.*， 2023-10-31 Обновление
IEC 61280-1-3 Процедуры испытаний подсистем оптоволоконной связи. Часть 1-3. Общие подсистемы связи. Измерение центральной длины волны, ширины спектра и дополнительных спектральных характеристик.*， 2021-07-05 Обновление
IEC 61300-2-4 Поправка 1. Волоконно-оптические соединительные устройства и пассивные компоненты. Основные процедуры испытаний и измерений. Часть 2-4. Испытания. Удержание волокна или кабеля.*， 2020-01-01 Обновление
IEC 62007-1 Поправка 1. Полупроводниковые оптоэлектронные устройства для применения в волоконно-оптических системах. Часть 1. Образец спецификации для основных номиналов и характеристик.*， 2022-09-22 Обновление
IEC 62007-2 Полупроводниковые оптоэлектронные устройства для применения в волоконно-оптических системах. Часть 2. Методы измерения.
IEC 62148-1 Волоконно-оптические активные компоненты и устройства. Стандарты корпусов и интерфейсов. Часть 1. Общие положения и рекомендации.*， 2017-08-31 Обновление
IEC 62149-1 Волоконно-оптические активные компоненты и устройства. Стандарты производительности. Часть 1. Общие положения и рекомендации.
IEC Guide 107 Электромагнитная совместимость. Руководство по составлению публикаций по электромагнитной совместимости.

BS EN 62149-2:2014 История

2014 BS EN 62149-2:2014 Оптоволоконные активные компоненты и устройства. Стандарты производительности. Лазерные устройства поверхностного излучения с дискретным вертикальным резонатором, длина волны 850 нм
2010 BS EN 62149-2:2009 Волоконно-оптические активные компоненты и устройства. Стандарты производительности. Лазерные устройства с дискретным поверхностным излучением с вертикальным резонатором и длиной волны 850 нм