DIN 32567-3:2014 Производственное оборудование для микросистем. Определение влияния материалов на оптическую и тактильную размерную метрологию. Часть 3. Вывод поправочных значений для тактильных измерительных приборов. - Стандарты и спецификации PDF

DIN 32567-3:2014
Производственное оборудование для микросистем. Определение влияния материалов на оптическую и тактильную размерную метрологию. Часть 3. Вывод поправочных значений для тактильных измерительных приборов.

Стандартный №
DIN 32567-3:2014
Дата публикации
2014
Разместил
German Institute for Standardization
состояние
быть заменен
DIN 32567-3:2014-10
Последняя версия
DIN 32567-3:2014-10
заменять
DIN 32567-3:2012

DIN 32567-3:2014 Ссылочный документ

  • DIN 32564-1:2004 Производственное оборудование для микросистем. Термины и определения. Часть 1. Общие положения по микросистемной технике.
  • DIN 32567-1 Производственное оборудование для микросистем. Определение влияния материалов на оптическую и тактильную размерную метрологию. Часть 1. Качественная оценка влияния материалов и конкретных процедур.*2015-06-01 Обновление
  • DIN 32567-2:2014 Производственное оборудование для микросистем. Определение влияния материалов на оптическую и тактильную размерную метрологию. Часть 2. Образцы для тактильных процедур.
  • DIN EN ISO 12179:2000 Геометрические спецификации изделия (GPS). Текстура поверхности: метод профиля. Калибровка контактных (щуповых) инструментов (ISO 12179:2000); Немецкая версия EN ISO 12179:2000.
  • DIN EN ISO 25178-601:2011 Геометрические характеристики изделия (GPS). Текстура поверхности: Площадь. Часть 601. Номинальные характеристики контактных (щуповых) инструментов (ISO 25178-601:2010); Немецкая версия EN ISO 25178-601:2010.
  • DIN EN ISO 3274:1998 Геометрические характеристики изделия (GPS). Текстура поверхности: метод профиля. Номинальные характеристики контактных (щуповых) инструментов (ISO 3274:1996); Немецкая версия EN ISO 3274:1997.
  • DIN EN ISO 5436-1:2000 Геометрические характеристики изделия (GPS) – Текстура поверхности: метод профиля; Эталоны измерений. Часть 1. Материальные меры (ISO 5436-1:2000); Немецкая версия EN ISO 5436-1:2000.
  • VDI/VDE 2617 Blatt 12.1-2011 Точность координатно-измерительных машин. Характеристики и их проверка. Приемо-сдаточные испытания для тактильных измерений микрогеометрии КИМ.
  • VDI/VDE 2629 Blatt 1-2008 Точность контурно-измерительных систем - Характеристика и проверка характеристик - Приемочные и поверочные испытания контурно-измерительных систем методом тактильного щупа
  • VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2010 Оптическое измерение микротопографии. Калибровка конфокальных микроскопов и эталонов глубины для измерения шероховатости.
  • VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 Определение геометрических величин с помощью сканирующих зондовых микроскопов - Калибровка измерительных систем

DIN 32567-3:2014 История

  • 2014 DIN 32567-3:2014-10 Производственное оборудование для микросистем. Определение влияния материалов на оптическую и тактильную размерную метрологию. Часть 3. Вывод поправочных значений для тактильных измерительных приборов.
  • 2014 DIN 32567-3:2014 Производственное оборудование для микросистем. Определение влияния материалов на оптическую и тактильную размерную метрологию. Часть 3. Вывод поправочных значений для тактильных измерительных приборов.
  • 1970 DIN 32567-3 E:2012-07
  • 0000 DIN 32567-3:2012



© 2023. Все права защищены.