KS C 2150-2008
Метод измерения диэлектрической проницаемости и диэлектрических потерь тонкой диэлектрической пленки в диапазоне высоких частот (500 МГц ~ 10 ГГц)

Стандартный №

KS C 2150-2008

Дата публикации

2008

Разместил

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

состояние

быть заменен

быть заменен

KS C 2150-2008(2018)

Последняя версия

KS C 2150-2008(2023)

сфера применения

Этот стандарт определяет диэлектрическую проницаемость и диэлектрические потери тонких диэлектрических пленок в диапазоне высоких частот (500 МГц ~ 10 ГГц).

KS C 2150-2008 История

• 0000 KS C 2150-2008(2023)
• 0000 KS C 2150-2008(2018)
• 2008 KS C 2150-2008 Метод измерения диэлектрической проницаемости и диэлектрических потерь тонкой диэлектрической пленки в диапазоне высоких частот (500 МГц ~ 10 ГГц)