KS C 2150-2008(2018) Метод измерения диэлектрической проницаемости и диэлектрических потерь тонкой диэлектрической пленки в диапазоне высоких частот (500 МГц ~ 10 ГГц)
2008KS C 2150-2008 Метод измерения диэлектрической проницаемости и диэлектрических потерь тонкой диэлектрической пленки в диапазоне высоких частот (500 МГц ~ 10 ГГц)