KS C 2150-2008(2023)
Метод измерения диэлектрической проницаемости и диэлектрических потерь тонкой диэлектрической пленки в диапазоне высоких частот (500 МГц ~ 10 ГГц)

Стандартный №

KS C 2150-2008(2023)

Дата публикации

2008

Разместил

KR-KS

Последняя версия

KS C 2150-2008(2023)

KS C 2150-2008(2023) История

• 0000 KS C 2150-2008(2023)
• 0000 KS C 2150-2008(2018)
• 2008 KS C 2150-2008 Метод измерения диэлектрической проницаемости и диэлектрических потерь тонкой диэлектрической пленки в диапазоне высоких частот (500 МГц ~ 10 ГГц)