IEC 60749-26:2013
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 26. Испытание чувствительности к электростатическому разряду (ESD). Модель человеческого тела (HBM).

Стандартный №

IEC 60749-26:2013

Дата публикации

2013

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

состояние

быть заменен 2018-01

быть заменен

IEC 60749-26:2018

Последняя версия

IEC 60749-26:2018

заменять

IEC 47/2160/FDIS:2013 IEC 60749-26:2006

сфера применения

Настоящий стандарт устанавливает процедуру тестирования, оценки и классификации компонентов и микросхем в соответствии с их предрасположенностью (чувствительностью) к повреждению или деградации в результате воздействия электростатического разряда (ESD) определенной модели человеческого тела (HBM).

IEC 60749-26:2013 История

• 2018 IEC 60749-26:2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 26. Испытание чувствительности к электростатическому разряду (ESD). Модель человеческого тела (HBM).
• 2013 IEC 60749-26:2013 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 26. Испытание чувствительности к электростатическому разряду (ESD). Модель человеческого тела (HBM).
• 2006 IEC 60749-26:2006 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 26. Испытание чувствительности к электростатическому разряду (ESD). Модель человеческого тела (HBM).
• 2003 IEC 60749-26:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 26. Испытание чувствительности к электростатическому разряду (ESD); Модель человеческого тела (HBM)