IEC 60749-26:2006 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 26. Испытание чувствительности к электростатическому разряду (ESD). Модель человеческого тела (HBM).
Эта часть IEC 60749 устанавливает стандартную процедуру тестирования и классификации полупроводниковых устройств в соответствии с их восприимчивостью к повреждению или деградации в результате воздействия электростатического разряда (ESD) определенной модели человеческого тела (HBM). Цель состоит в том, чтобы предоставить надежные, повторяемые результаты испытаний HBM ESD, чтобы можно было выполнить точную классификацию. Этот метод испытаний применим ко всем полупроводниковым приборам и относится к разрушающим. Испытание ESD полупроводниковых устройств выбирается из этого метода испытаний, метода испытания модели машины (MM) (см. IEC 60749-27) или других методов испытаний ESD из серии IEC 60749. Методы испытаний HBM и MM дают схожие, но не идентичные результаты; если не указано иное, выбран этот метод испытаний. П р и м е ч а н и е — Некоторые разделы данного метода испытаний соответствуют МЭК 61340-3-1.
IEC 60749-26:2006 История
2018IEC 60749-26:2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 26. Испытание чувствительности к электростатическому разряду (ESD). Модель человеческого тела (HBM).
2013IEC 60749-26:2013 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 26. Испытание чувствительности к электростатическому разряду (ESD). Модель человеческого тела (HBM).
2006IEC 60749-26:2006 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 26. Испытание чувствительности к электростатическому разряду (ESD). Модель человеческого тела (HBM).
2003IEC 60749-26:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 26. Испытание чувствительности к электростатическому разряду (ESD); Модель человеческого тела (HBM)