IEC 60749-26:2003
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 26. Испытание чувствительности к электростатическому разряду (ESD); Модель человеческого тела (HBM)

Стандартный №

IEC 60749-26:2003

Дата публикации

2003

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

состояние

быть заменен 2006-07

быть заменен

IEC 60749-26:2006

Последняя версия

IEC 60749-26:2018

сфера применения

Устанавливает стандартную процедуру тестирования и классификации полупроводниковых устройств в зависимости от их подверженности повреждению или деградации в результате воздействия электростатического разряда на определенной модели человеческого тела. Цель состоит в том, чтобы обеспечить надежные, повторяющиеся

IEC 60749-26:2003 История

• 2018 IEC 60749-26:2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 26. Испытание чувствительности к электростатическому разряду (ESD). Модель человеческого тела (HBM).
• 2013 IEC 60749-26:2013 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 26. Испытание чувствительности к электростатическому разряду (ESD). Модель человеческого тела (HBM).
• 2006 IEC 60749-26:2006 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 26. Испытание чувствительности к электростатическому разряду (ESD). Модель человеческого тела (HBM).
• 2003 IEC 60749-26:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 26. Испытание чувствительности к электростатическому разряду (ESD); Модель человеческого тела (HBM)