ASTM F1190-11
Стандартное руководство по нейтронному облучению несмещенных электронных компонентов

Стандартный №

ASTM F1190-11

Дата публикации

2011

Разместил

American Society for Testing and Materials (ASTM)

состояние

быть заменен

быть заменен

ASTM F1190-18

Последняя версия

ASTM F1190-18

сфера применения

Полупроводниковые устройства могут быть необратимо повреждены нейтронами реакторного спектра (1, 2). Влияние такого повреждения на работу электронного компонента можно определить путем измерения электрических характеристик компонента до и после воздействия быстрых нейтронов в интересующем диапазоне флюенса нейтронов. Полученные данные могут быть использованы при проектировании электронных схем, устойчивых к деградации, проявляемой этим компонентом. В этом руководстве представлен метод, с помощью которого можно проводить воздействие нейтронного облучения полупроводниковых устройств на основе кремния и арсенида галлия повторяемым образом и который позволит проводить сравнение данных, полученных на различных объектах. Для полупроводников, отличных от кремния и арсенида галлия, применимые проверенные функции повреждения при энергии 1 МэВ недоступны в кодифицированных национальных стандартах. В отсутствие подтвержденной функции повреждения 1 МэВ в качестве приближения можно использовать неионизирующие потери энергии (NIEL) или смещение кермы как функцию энергии падающего нейтрона, нормированную на отклик в области энергий 1 МэВ. . См. описание метода E722 для определения функций повреждения в Si и GaAs (3).1.1 Данное руководство строго применимо только к воздействию несмещенных полупроводниковых компонентов кремния (Si) или арсенида галлия (GaAs) (интегральных схем, транзисторы и диоды) нейтронному излучению источника ядерного реактора для определения необратимых повреждений компонентов. Подтвержденные функции повреждения при смещении 1 МэВ, кодифицированные в национальных стандартах, в настоящее время недоступны для других полупроводниковых материалов. 1.2 Элементы настоящего руководства с учетом отмеченных отклонений могут также быть применимы к воздействию полупроводников, состоящих из других материалов, за исключением того, что проверенные функции повреждения смещением 1 МэВ, кодифицированные в национальных стандартах, в настоящее время недоступны. 1.3 В данном руководстве рассматриваются только условия воздействия. Влияние радиации на испытуемый образец следует определять с использованием соответствующих методов электрических испытаний. 1.4 В настоящем руководстве рассматриваются вопросы и проблемы, связанные с облучением нейтронами реакторного спектра. 1.5 Воздействия на системы и подсистемы, а также методы испытаний не включены в данное руководство. 1.6 Настоящее руководство применимо к облучению, проводимому при работе реактора как в импульсном, так и в установившемся режиме. Диапазон, представляющий интерес для флюенса нейтронов при испытаниях полупроводников на повреждение смещением, составляет примерно от 109 до 1016 1 МэВ н/см2. 1.7 В настоящем руководстве не рассматриваются индуцированные нейтронами эффекты одиночных или множественных нейтронных событий, а также переходный отжиг. 1.8 Настоящее руководство представляет собой альтернативу методу испытаний 1017.3 «Испытание нейтронного смещения», являющемуся компонентом MIL-STD-883 и MIL-STD-750. Министерство обороны ограничило использование этих MIL-STD программами, существовавшими в 1995 году и ранее. 1.9 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.

ASTM F1190-11 Ссылочный документ

• ASTM E1249 Стандартная практика минимизации ошибок дозиметрии при испытаниях на радиационную стойкость кремниевых электронных устройств с использованием источников Co-60
• ASTM E1250 Стандартный метод испытаний применения ионизационных камер для оценки низкоэнергетической гамма-компоненты облучателей на основе кобальта-60, используемых при радиационно-стойких испытаниях кремниевых электронных устройств
• ASTM E1854 Стандартная практика обеспечения согласованности испытаний при повреждении электронных деталей, вызванном нейтронами и смещением
• ASTM E1855 Стандартный метод испытаний для использования кремниевых биполярных транзисторов 2N2222A в качестве датчиков нейтронного спектра и мониторов повреждений при смещении
• ASTM E2450 Стандартная практика применения термолюминесцентных дозиметров CaF2(Mn) в смешанных нейтронно-фотонных средах
• ASTM E264 Стандартный метод измерения скорости реакции быстрых нейтронов путем радиоактивной активации никеля
• ASTM E265  Стандартный метод испытаний для измерения скоростей реакций и флюенсов быстрых нейтронов путем радиоактивной активации серы-32
• ASTM E668 Стандартная практика применения систем термолюминесцентно-дозиметрии (ТЛД) для определения поглощенной дозы при испытаниях электронных устройств на радиационную стойкость
• ASTM E720 Стандартное руководство по выбору и использованию нейтронно-активационных фольг для определения нейтронных спектров, используемых при радиационно-стойких испытаниях электроники
• ASTM E721  Стандартное руководство по определению энергетических спектров нейтронов от нейтронных датчиков для испытаний электроники на радиационную стойкость
• ASTM E722  Стандартная практика характеристики спектров энергетического флюенса нейтронов в терминах эквивалентного флюенса моноэнергетических нейтронов для испытаний электроники на радиационную стойкость
• ASTM F1892 Стандартное руководство по испытанию воздействия ионизирующего излучения (общая доза) полупроводниковых приборов
• ASTM F980 Руководство по измерению быстрого отжига нейтронно-индуцированных смещений в кремниевых полупроводниковых устройствах

ASTM F1190-11 История

• 2018 ASTM F1190-18 Стандартное руководство по нейтронному облучению несмещенных электронных компонентов
• 2011 ASTM F1190-11 Стандартное руководство по нейтронному облучению несмещенных электронных компонентов
• 1999 ASTM F1190-99(2005) Стандартное руководство по нейтронному облучению несмещенных электронных компонентов
• 1999 ASTM F1190-99 Стандартное руководство по нейтронному облучению несмещенных электронных компонентов
• 1993 ASTM F1190-93 Стандартное руководство по нейтронному облучению несмещенных электронных компонентов