ASTM E995-11
Стандартное руководство по методам вычитания фона в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
- Стандартный №
- ASTM E995-11
- Дата публикации
- 2011
- Разместил
- American Society for Testing and Materials (ASTM)
- состояние
- быть заменен
- ASTM E995-16
- Последняя версия
- ASTM E995-16
- сфера применения
- Методы вычитания фона в AES первоначально использовались как метод усиления относительно слабых оже-сигналов, чтобы отличить их от медленно меняющегося фона вторичных и обратно рассеянных электронов. Интерес к получению полезной информации по форме линии оже-пика, стремление к большей количественной точности оже-спектров и усовершенствование методов сбора данных привели к разработке различных методов вычитания фона. Аналогичным образом, использование методов вычитания фона в РФЭС возникло главным образом из-за интереса к определению химических состояний (из значений энергии связи для пиков компонентов, которые часто могут перекрываться), большей количественной точности спектров РФЭС и улучшения данных. приобретение. К данным XPS обычно применяется вычитание фона после сбора данных. Процедуры, описанные в разделе 7, популярны в XPS и AES; Менее популярные и редко используемые процедуры описаны в разделах 8 и 9 соответственно. Были опубликованы общие обзоры методов вычитания фона и методов аппроксимации кривых (1-5). Вычитание фона обычно выполняется перед подбором пика. Некоторые коммерческие системы требуют удаления фона. Тем не менее, измеряемую область спектра, состоящую из одного или нескольких пиков и интенсивности фона, обусловленного неупругим рассеянием, тормозным излучением (для РФЭС с немонохроматированными источниками рентгеновского излучения) и рассеянными первичными электронами (для АЭС), часто можно удовлетворительно представить, выбрав функции для каждого компонент интенсивности с параметрами для каждого компонента, определенными с помощью одного метода наименьших квадратов. Выбор фона, который необходимо или желательно удалить перед подгонкой пика, определяется опытом аналитиков и сложностью пика, как указано выше. 1.1 Целью данного руководства является ознакомление аналитика с основными методами вычитания фона, которые в настоящее время используются в использования вместе с характером их применения для сбора данных и манипулирования ими. 1.2 Данное руководство предназначено для применения к вычитанию фона в электронной, рентгеновской и ионно-возбужденной оже-электронной спектроскопии (AES) и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS). 1.3 Значения, указанные в единицах СИ, следует считать стандартными. Никакие другие единицы измерения в настоящий стандарт не включены. 1.4 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.
ASTM E995-11 Ссылочный документ
- ASTM E673 Стандартная терминология, относящаяся к анализу поверхности
ASTM E995-11 История
- 2016 ASTM E995-16 Стандартное руководство по методам вычитания фона в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
- 2011 ASTM E995-11 Стандартное руководство по методам вычитания фона в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
- 2004 ASTM E995-04 Стандартное руководство по методам вычитания фона в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
- 1997 ASTM E995-97 Стандартное руководство по методам вычитания фона в электронной оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
