ASTM E995-16 Стандартное руководство по методам вычитания фона в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии - Стандарты и спецификации PDF

ASTM E995-16
Стандартное руководство по методам вычитания фона в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

Стандартный №
ASTM E995-16
Дата публикации
2016
Разместил
American Society for Testing and Materials (ASTM)
Последняя версия
ASTM E995-16
сфера применения
1.1 Целью настоящего руководства является ознакомление аналитика с основными методами вычитания фона, которые используются в настоящее время, а также с характером их применения для сбора и обработки данных. 1.2 Данное руководство предназначено для применения к вычитанию фона в электронной, рентгеновской и ионно-возбужденной оже-электронной спектроскопии (AES) и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS). 1.3 Значения, указанные в единицах СИ, следует считать стандартными. Никакие другие единицы измерения в настоящий стандарт не включены. 1.4 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.

ASTM E995-16 Ссылочный документ

  • ASTM E673  Стандартная терминология, относящаяся к анализу поверхности

ASTM E995-16 История

  • 2016 ASTM E995-16 Стандартное руководство по методам вычитания фона в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
  • 2011 ASTM E995-11 Стандартное руководство по методам вычитания фона в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
  • 2004 ASTM E995-04 Стандартное руководство по методам вычитания фона в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
  • 1997 ASTM E995-97 Стандартное руководство по методам вычитания фона в электронной оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии



© 2023. Все права защищены.