1.1 Целью настоящего руководства является ознакомление аналитика с основными методами вычитания фона, которые используются в настоящее время, а также с характером их применения для сбора и обработки данных. 1.2 Данное руководство предназначено для применения к вычитанию фона в электронной, рентгеновской и ионно-возбужденной оже-электронной спектроскопии (AES) и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS). 1.3 Значения, указанные в единицах СИ, следует считать стандартными. Никакие другие единицы измерения в настоящий стандарт не включены. 1.4 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.
ASTM E995-16 Ссылочный документ
ASTM E673 Стандартная терминология, относящаяся к анализу поверхности
ASTM E995-16 История
2016ASTM E995-16 Стандартное руководство по методам вычитания фона в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
2011ASTM E995-11 Стандартное руководство по методам вычитания фона в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
2004ASTM E995-04 Стандартное руководство по методам вычитания фона в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
1997ASTM E995-97 Стандартное руководство по методам вычитания фона в электронной оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии