ASTM E995-04 Стандартное руководство по методам вычитания фона в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии - Стандарты и спецификации PDF

ASTM E995-04
Стандартное руководство по методам вычитания фона в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

Стандартный №
ASTM E995-04
Дата публикации
2004
Разместил
American Society for Testing and Materials (ASTM)
состояние
быть заменен
ASTM E995-11
Последняя версия
ASTM E995-16
сфера применения
Методы вычитания фона в AES первоначально использовались как метод усиления относительно слабых оже-сигналов, чтобы отличить их от медленно меняющегося фона вторичных и обратно рассеянных электронов. Интерес к получению полезной информации по форме линии оже-пика, стремление к большей количественной точности оже-спектров и усовершенствование методов сбора данных привели к разработке различных методов вычитания фона. Аналогичным образом, использование методов вычитания фона в РФЭС возникло главным образом из-за интереса к определению химических состояний (значений энергии связи), большей количественной точности спектров РФЭС и усовершенствований в сборе данных. К данным XPS обычно применяется вычитание фона после сбора данных. Описанные процедуры популярны в XPS и AES. Были опубликованы общие обзоры методов вычитания фона (1 и 2).3 1.1 Целью данного руководства является ознакомление аналитика с основными методами вычитания фона, которые используются в настоящее время, а также характером их применения для сбора данных и манипулирования ими.1.2 Настоящее руководство предназначено для применения к вычитанию фона в электронной, рентгеновской и ионно-возбужденной оже-спектроскопии (AES) и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS). 1.3 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности. , если таковые имеются, связанные с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.

ASTM E995-04 Ссылочный документ

  • ASTM E673  Стандартная терминология, относящаяся к анализу поверхности
  • ASTM E996 Стандартная практика представления данных в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

ASTM E995-04 История

  • 2016 ASTM E995-16 Стандартное руководство по методам вычитания фона в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
  • 2011 ASTM E995-11 Стандартное руководство по методам вычитания фона в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
  • 2004 ASTM E995-04 Стандартное руководство по методам вычитания фона в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
  • 1997 ASTM E995-97 Стандартное руководство по методам вычитания фона в электронной оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии



© 2023. Все права защищены.