IEC 60749-32:2010
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 32. Воспламеняемость устройств в пластиковых капсулах (внешнее наведение)
- Стандартный №
- IEC 60749-32:2010
- Дата публикации
- 2010
- Разместил
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- состояние
- быть заменен
- IEC 60749-32:2002/AMD1:2010
- Последняя версия
- IEC 60749-32:2002/AMD1:2010
- сфера применения
- Эта часть IEC 60749 применима к полупроводниковым устройствам (дискретным устройствам и интегральным схемам). Цель этого испытания – определить, воспламеняется ли устройство из-за внешнего нагрева. В тесте используется игольчатое пламя, имитирующее эффект небольшого пламени, которое может возникнуть в результате неисправности оборудования, содержащего устройство. П р и м е ч а н и е — Это испытание идентично методу испытаний, содержащемуся в 1.2 главы 4 МЭК 60749 (1996), за исключением добавления этого раздела, добавления наименований к разделам 2 и 3 и изменения нумерации.
IEC 60749-32:2010 История
- 2010 IEC 60749-32:2002/AMD1:2010 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 32. Воспламеняемость устройств в пластиковых капсулах (внешнее наведение)
- 2010 IEC 60749-32:2010 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 32. Воспламеняемость устройств в пластиковых капсулах (внешнее наведение)
- 2003 IEC 60749-32:2002/COR1:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 32. Воспламеняемость устройств в пластиковых капсулах (внешнее наведение)
- 2002 IEC 60749-32:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 32. Воспламеняемость устройств в пластиковых капсулах (внешнее наведение)
