ASTM E2695-09
Стандартное руководство по интерпретации масс-спектральных данных, полученных с помощью времяпролетной масс-спектроскопии вторичных ионов

Стандартный №

ASTM E2695-09

Дата публикации

2009

Разместил

American Society for Testing and Materials (ASTM)

Последняя версия

ASTM E2695-09

сфера применения

Интерпретация статических масс-спектральных данных SIMS может быть затруднена из-за сложности и плотности полученных данных, и, следовательно, вариабельность часто возникает, когда пользователи не последовательны в своих методах интерпретации данных. Это руководство призвано помочь избежать этих несоответствий путем обсуждения наиболее часто наблюдаемые сценарии статического SIMS-анализа и подход к этим сценариям. Это руководство можно использовать в качестве учебного пособия для сотрудников или студентов, или для того и другого. 1.1 Это руководство предоставляет пользователям времяпролетной масс-спектрометрии вторичных ионов (ToF-SIMS) метод интерпретации данных масс-спектрометрии. Это руководство применимо к большинству приборов ToF-SIMS и может быть применимо или неприменимо к другим формам масс-спектрометрии вторичного значка (SIMS). 1.2 Настоящее руководство не претендует на описание методов подготовки проб. Пользователь несет ответственность за соблюдение строгих процедур подготовки проб, чтобы свести к минимуму загрязнение и оптимизировать сигналы. Рекомендации по подготовке проб см. в Руководстве E1078 и ISO 18116. 1.3 Значения, указанные в единицах СИ, следует считать стандартными. Никакие другие единицы измерения в настоящий стандарт не включены. 1.4 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.

ASTM E2695-09 Ссылочный документ

• ASTM E1078 Стандартное руководство по процедурам подготовки и крепления образцов при анализе поверхности
• ASTM E1504  Стандартная практика представления масс-спектральных данных в масс-спектрометрии вторичных ионов (ВИМС)
• ASTM E1635 Стандартная практика представления данных визуализации в масс-спектрометрии вторичных ионов (SIMS)
• ASTM E673  Стандартная терминология, относящаяся к анализу поверхности
• ISO 18116 Химический анализ поверхности. Рекомендации по подготовке и креплению образцов для анализа
• ISO 23830 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Повторяемость и постоянство шкалы относительной интенсивности в статической масс-спектрометрии вторичных ионов.

ASTM E2695-09 История

• 2009 ASTM E2695-09 Стандартное руководство по интерпретации масс-спектральных данных, полученных с помощью времяпролетной масс-спектроскопии вторичных ионов