ASTM E1635-95(2000)
Стандартная практика представления данных визуализации в масс-спектрометрии вторичных ионов (SIMS)

Стандартный №

ASTM E1635-95(2000)

Дата публикации

1995

Разместил

American Society for Testing and Materials (ASTM)

состояние

быть заменен

быть заменен

ASTM E1635-06

Последняя версия

ASTM E1635-06(2019)

сфера применения

1.1 В этом методе указан минимум информации, необходимой для описания инструментальных, экспериментальных процедур и процедур обработки данных, используемых при получении и предоставлении изображений, полученных с помощью вторично-ионной масс-спектрометрии (ВИМС). 1.2 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.

ASTM E1635-95(2000) История

• 2019 ASTM E1635-06(2019) Стандартная практика представления данных визуализации в масс-спектрометрии вторичных ионов (SIMS)
• 2006 ASTM E1635-06(2011) Стандартная практика представления данных визуализации в масс-спектрометрии вторичных ионов (SIMS)
• 2006 ASTM E1635-06 Стандартная практика представления данных визуализации в масс-спектрометрии вторичных ионов (SIMS)
• 1995 ASTM E1635-95(2000) Стандартная практика представления данных визуализации в масс-спектрометрии вторичных ионов (SIMS)