ASTM E1635-06(2019)
Стандартная практика представления данных визуализации в масс-спектрометрии вторичных ионов (SIMS)

Стандартный №

ASTM E1635-06(2019)

Дата публикации

2019

Разместил

American Society for Testing and Materials (ASTM)

Последняя версия

ASTM E1635-06(2019)

сфера применения

1.1 В этом методе указан минимум информации, необходимой для описания инструментальных, экспериментальных процедур и процедур обработки данных, используемых при получении и предоставлении изображений, полученных с помощью вторично-ионной масс-спектрометрии (ВИМС). 1.2 Значения, указанные в единицах СИ, следует считать стандартными. Никакие другие единицы измерения в настоящий стандарт не включены. 1.3 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности, охраны труда и окружающей среды, а также определение применимости нормативных ограничений перед использованием. 1.4 Настоящий международный стандарт был разработан в соответствии с международно признанными принципами стандартизации, установленными в Решении о принципах разработки международных стандартов, руководств и рекомендаций, выпущенном Комитетом Всемирной торговой организации по техническим барьерам в торговле (ТБТ).

ASTM E1635-06(2019) Ссылочный документ

• ASTM E1504  Стандартная практика представления масс-спектральных данных в масс-спектрометрии вторичных ионов (ВИМС)
• ASTM E673  Стандартная терминология, относящаяся к анализу поверхности

ASTM E1635-06(2019) История

• 2019 ASTM E1635-06(2019) Стандартная практика представления данных визуализации в масс-спектрометрии вторичных ионов (SIMS)
• 2006 ASTM E1635-06(2011) Стандартная практика представления данных визуализации в масс-спектрометрии вторичных ионов (SIMS)
• 2006 ASTM E1635-06 Стандартная практика представления данных визуализации в масс-спектрометрии вторичных ионов (SIMS)
• 1995 ASTM E1635-95(2000) Стандартная практика представления данных визуализации в масс-спектрометрии вторичных ионов (SIMS)