GB/T 6617-2009 Метод испытаний для измерения удельного сопротивления кремниевой пластины с использованием датчика сопротивления растекания (Англоязычная версия)
Настоящий стандарт определяет метод измерения удельного сопротивления кремниевых пластин с помощью датчиков сопротивления растекания. Этот стандарт подходит для измерения удельного сопротивления кремниевых пластин с известной ориентацией кристаллов и типом проводимости, а также измерения удельного сопротивления эпитаксиального слоя кремниевых пластин с подложкой того же или инверсного типа. Диапазон измерения: 10-3 Ом·см ~ 102 Ом·см.
GB/T 6617-2009 Ссылочный документ
GB/T 14847 Метод определения толщины эпитаксиальных слоев легколегированного кремния на подложках из сильнолегированного кремния методом отражения инфракрасного излучения*, 2011-01-10 Обновление
GB/T 1550 Методы испытаний типа проводимости примесных полупроводниковых материалов*, 2018-12-28 Обновление
GB/T 1552 Методика измерения удельного сопротивления монокристаллического кремния и германия коллинеарной четырехзондовой решеткой
GB/T 1555 Метод определения кристаллической ориентации монокристалла полупроводника*, 2023-08-06 Обновление
GB/T 6617-2009 История
2009GB/T 6617-2009 Метод испытаний для измерения удельного сопротивления кремниевой пластины с использованием датчика сопротивления растекания
1995GB/T 6617-1995 Метод испытаний для измерения удельного сопротивления кремниевых пластин с использованием зонда сопротивления растекания