DIN 50455-1:2009
Испытание материалов для полупроводниковой техники. Методы характеристики фоторезистов. Часть 1. Определение толщины покрытия оптическими методами.
- Стандартный №
- DIN 50455-1:2009
- Дата публикации
- 2009
- Разместил
- German Institute for Standardization
- состояние
- быть заменен
- DIN 50455-1:2009-10
- Последняя версия
- DIN 50455-1:2009-10
- заменять
- DIN 50455-1:2008 DIN 50455-1:1991
DIN 50455-1:2009 Ссылочный документ
- EN ISO 14644-1 Чистые помещения и связанные с ними контролируемые среды. Часть 1. Классификация чистоты воздуха по концентрации частиц (ISO 14644-1:2015)*， 2015-12-01 Обновление
DIN 50455-1:2009 История
- 2009 DIN 50455-1:2009-10 Испытание материалов для полупроводниковой техники. Методы характеристики фоторезистов. Часть 1. Определение толщины покрытия оптическими методами.
- 2009 DIN 50455-1:2009 Испытание материалов для полупроводниковой техники. Методы характеристики фоторезистов. Часть 1. Определение толщины покрытия оптическими методами.
- 1991 DIN 50455-1:1991 Испытание материалов для полупроводниковой техники; методы характеристики фоторезистов; определение толщины покрытия оптическими методами
