DIN 50455-1:2009-10
Испытание материалов для полупроводниковой техники. Методы характеристики фоторезистов. Часть 1. Определение толщины покрытия оптическими методами.
- Стандартный №
- DIN 50455-1:2009-10
- Дата публикации
- 2009
- Разместил
- German Institute for Standardization
- Последняя версия
- DIN 50455-1:2009-10
DIN 50455-1:2009-10 История
- 2009 DIN 50455-1:2009-10 Испытание материалов для полупроводниковой техники. Методы характеристики фоторезистов. Часть 1. Определение толщины покрытия оптическими методами.
- 2009 DIN 50455-1:2009 Испытание материалов для полупроводниковой техники. Методы характеристики фоторезистов. Часть 1. Определение толщины покрытия оптическими методами.
- 1991 DIN 50455-1:1991 Испытание материалов для полупроводниковой техники; методы характеристики фоторезистов; определение толщины покрытия оптическими методами
