DB31/T 297-2003
Метод калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа (Англоязычная версия)

Стандартный №

DB31/T 297-2003

язык

Китайский, Доступно на английском

Дата публикации

2004

Разместил

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China

Последняя версия

DB31/T 297-2003

DB31/T 297-2003 Ссылочный документ

• ASTM E766-98 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
• ISO Guide 30:1992  Термины и определения, используемые в отношении справочных материалов
• JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа
• JJG 550-1988  Регламент поверки сканирующего электронного микроскопа

DB31/T 297-2003 История

• 2004 DB31/T 297-2003 Метод калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа