ISO 15632:2002 Микролучевой анализ. Технические характеристики энергодисперсионных рентгеновских спектрометров с полупроводниковыми детекторами. - Стандарты и спецификации PDF

ISO 15632:2002
Микролучевой анализ. Технические характеристики энергодисперсионных рентгеновских спектрометров с полупроводниковыми детекторами.

Стандартный №
ISO 15632:2002
Дата публикации
2002
Разместил
International Organization for Standardization (ISO)
состояние
быть заменен
ISO 15632:2012
Последняя версия
ISO 15632:2021
сфера применения
Настоящий стандарт определяет важнейшие величины, характеризующие характеристики рентгеновских энергетических спектрометров (ЭДС) на основе полупроводниковых детекторов, предусилителей и систем обработки сигналов. Настоящий стандарт распространяется только на полупроводниковые детекторы ЭДС, основанные на принципе твердотельной ионизации. Этот стандарт устанавливает только минимальные требования к EDS, такие как электронный зонд (EPMA) или сканирующий электронный микроскоп (SEM), а способы реализации анализа не входят в сферу применения этого стандарта.

ISO 15632:2002 История

  • 2021 ISO 15632:2021 Микролучевой анализ. Отдельные параметры рабочих характеристик прибора для спецификации и проверки энергодисперсионных рентгеновских спектрометров (EDS) для использования со сканирующим электронным микроскопом (SEM) или электронно-зондовым микроанализатором (EPMA).
  • 2012 ISO 15632:2012 Микролучевой анализ. Отдельные параметры производительности прибора для спецификации и проверки энергодисперсионных рентгеновских спектрометров для использования в электронно-зондовом микроанализе.
  • 2002 ISO 15632:2002 Микролучевой анализ. Технические характеристики энергодисперсионных рентгеновских спектрометров с полупроводниковыми детекторами.



© 2023. Все права защищены.