IEC 60749-9:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 9. Устойчивость маркировки. - Стандарты и спецификации PDF

IEC 60749-9:2002
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 9. Устойчивость маркировки.

Стандартный №
IEC 60749-9:2002
Дата публикации
2002
Разместил
International Electrotechnical Commission (IEC)
состояние
быть заменен
IEC 60749-9:2002/COR1:2003
Последняя версия
IEC 60749-9:2017
заменять
IEC 47/1533A/CDV:2000 IEC 47/1604/FDIS:2002 IEC 60749:1996 IEC 60749 AMD 1:2000 IEC 60749 AMD 2:2001 IEC 60749 Edition 2.2:2002 IEC/PAS 62175:2000
сфера применения
Целью данной части IEC 60749 является тестирование и проверка того, что маркировка на полупроводниковых устройствах не станет неразборчивой под воздействием растворителей или чистящих растворов, обычно используемых при удалении остатков припоя припоя в процессе сборки печатной платы. Этот тест применим для всех типов упаковки. Он подходит для использования при квалификационных испытаниях и/или мониторинге процесса. Испытание следует считать неразрушающим. Для данного испытания можно использовать электрические или механические бракованные изделия. В целом этот тест на сохранение маркировки соответствует IEC 60068-2-45, но из-за особых требований к полупроводникам применяются положения настоящего стандарта. ПРИМЕЧАНИЕ 1. Эта процедура не применяется к упаковкам с лазерной маркировкой. Многие доступные растворители, которые можно было бы использовать, либо недостаточно активны, либо слишком жестки, либо даже опасны для человека при прямом контакте или при вдыхании паров. ПРИМЕЧАНИЕ 2. Состав растворителей, используемый в настоящем стандарте, считается типичным и соответствующим требуемой строгости в отношении обычных покрытий и маркировки.

IEC 60749-9:2002 История

  • 2017 IEC 60749-9:2017 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 9. Устойчивость маркировки.
  • 2003 IEC 60749-9:2002/COR1:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 9. Устойчивость маркировки.
  • 2002 IEC 60749-9:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 9. Устойчивость маркировки.

IEC 60749-9:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 9. Устойчивость маркировки. было изменено на IEC 60749:1996 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний.




© 2023. Все права защищены.