IEC 60749-9:2002/COR1:2003
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 9. Устойчивость маркировки.

Стандартный №

IEC 60749-9:2002/COR1:2003

Дата публикации

2003

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

состояние

быть заменен 2017-03

быть заменен

IEC 60749-9:2017

Последняя версия

IEC 60749-9:2017

сфера применения

Это техническое исправление 1 к IEC 60749-9-2002 (Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 9. Постоянство маркировки).

IEC 60749-9:2002/COR1:2003 История

• 2017 IEC 60749-9:2017 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 9. Устойчивость маркировки.
• 2003 IEC 60749-9:2002/COR1:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 9. Устойчивость маркировки.
• 2002 IEC 60749-9:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 9. Устойчивость маркировки.