IEC 60749-2:2002
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2. Низкое давление воздуха.
- Стандартный №
- IEC 60749-2:2002
- Дата публикации
- 2002
- Разместил
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- состояние
- быть заменен
- IEC 60749-2:2002/COR1:2003
- Последняя версия
- IEC 60749-2:2002/COR1:2003
- заменять
- IEC 47/1601/FDIS:2002 IEC 60749:1996 IEC 60749 AMD 1:2000 IEC 60749 AMD 2:2001 IEC 60749 Edition 2.2:2002
- сфера применения
- Этот раздел относится к испытаниям полупроводниковых приборов низким давлением. Целью этого испытания является измерение способности компонентов и материалов избегать электрического пробоя, вызванного ослаблением диэлектрической прочности воздуха и других изоляционных материалов при снижении давления воздуха. Это испытание применимо только к устройствам с рабочим напряжением более 1000 В. Это испытание применимо ко всем полупроводниковым приборам с воздушной изоляцией. Этот тестер подходит для военной и космической областей. Этот метод испытания низким давлением в целом соответствует IEC 60068-2-13, но ввиду особых требований к полупроводниковым устройствам используются положения этого раздела.
IEC 60749-2:2002 История
- 2003 IEC 60749-2:2002/COR1:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2. Низкое давление воздуха.
- 2002 IEC 60749-2:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2. Низкое давление воздуха.
IEC 60749-2:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2. Низкое давление воздуха. было изменено на IEC 60749:1996 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний.
