Это техническое исправление 1 к IEC 60749-2-2002 (Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2. Низкое давление воздуха).
IEC 60749-2:2002/COR1:2003 История
2003IEC 60749-2:2002/COR1:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2. Низкое давление воздуха.
2002IEC 60749-2:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 2. Низкое давление воздуха.