International Organization for Standardization (ISO)
Последняя версия
ISO 18257:2016
сфера применения
В этом документе определены основные требования к проектированию полупроводниковых ИС космического назначения, включая процесс их проектирования, а также необходимые задачи и требования каждого этапа. Требования к конкретному проектированию схемы не включены.
ISO 18257:2016 Ссылочный документ
IEC 61967-2:2005 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки.
IEC 62132 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 8. Измерение устойчивости к излучению. Метод полосковой линии IC.
IEC 62215-3:2013 Интегральные схемы. Измерение импульсной устойчивости. Часть 3. Метод несинхронной переходной инжекции.
ISO 10795:2011 Космические системы. Управление программами и качество. Словарь.
ISO 18257:2016 История
2016ISO 18257:2016 Космические системы. Полупроводниковые интегральные схемы для космического применения. Требования к проектированию.