IEC 62132-8:2012 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 8. Измерение устойчивости к излучению. Метод полосковой линии IC. - Стандарты и спецификации PDF

IEC 62132-8:2012
Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 8. Измерение устойчивости к излучению. Метод полосковой линии IC.

Стандартный №
IEC 62132-8:2012
Дата публикации
2012
Разместил
International Electrotechnical Commission (IEC)
Последняя версия
IEC 62132-8:2012
заменять
IEC 47A/882/FDIS:2012

IEC 62132-8:2012 История

  • 2012 IEC 62132-8:2012 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 8. Измерение устойчивости к излучению. Метод полосковой линии IC.



© 2023. Все права защищены.