IEC 62132-8:2012 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 8. Измерение устойчивости к излучению. Метод полосковой линии IC.
2012IEC 62132-8:2012 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 8. Измерение устойчивости к излучению. Метод полосковой линии IC.