IEC 63287-1:2021
Полупроводниковые приборы. Общие рекомендации по квалификации полупроводников. Часть 1. Рекомендации по квалификации надежности ИС.

Стандартный №

IEC 63287-1:2021

Дата публикации

2021

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

Последняя версия

IEC 63287-1:2021

заменить на

IEC 60749-43:2017 IEC 47/2703/FDIS:2021

сфера применения

В этой части стандарта IEC 63287 приведены рекомендации по планам аттестации надежности полупроводниковых интегральных схем. Этот документ не предназначен для применения в военной и космической сфере.

IEC 63287-1:2021 История

• 2021 IEC 63287-1:2021 Полупроводниковые приборы. Общие рекомендации по квалификации полупроводников. Часть 1. Рекомендации по квалификации надежности ИС.

IEC 63287-1:2021 Полупроводниковые приборы. Общие рекомендации по квалификации полупроводников. Часть 1. Рекомендации по квалификации надежности ИС. было изменено на IEC 60749-43:2017 Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais Mécaniques et Climatiques - Часть 43: Линии направления, касающиеся планов квалификации de la fiabilité des CI (Издание 1.0).