IEC 60749-43:2017 Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais Mécaniques et Climatiques - Часть 43: Линии направления, касающиеся планов квалификации de la fiabilité des CI (Издание 1.0)

сфера применения: В этой части стандарта IEC 60749 приводятся рекомендации по планам аттестации надежности полупроводниковых интегральных схем (ИС). Этот документ не предназначен для применения в военной и космической сфере. ПРИМЕЧАНИЕ 1. Производитель может использовать гибкие размеры выборки для снижения затрат и поддержания разумной надежности с помощью адаптации данного руководства на основе EDR-4708@ AEC Q100@ JESD47 или другого соответствующего документа, который также может быть применим, если это указано. ПРИМЕЧАНИЕ 2. Метод распределения Вейбулла, используемый в этом документе, является одним из нескольких методов расчета соответствующего размера выборки и условий испытаний для данного проекта надежности.

IEC 60749-43:2017 История

2017 IEC 60749-43:2017 Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais Mécaniques et Climatiques - Часть 43: Линии направления, касающиеся планов квалификации de la fiabilité des CI (Издание 1.0)