ASTM C1371-15
Стандартный метод испытаний для определения эмиттанса материалов при температуре, близкой к комнатной, с использованием портативных эмиссометров
- Стандартный №
- ASTM C1371-15
- Дата публикации
- 2015
- Разместил
- American Society for Testing and Materials (ASTM)
- состояние
- быть заменен
- ASTM C1371-15(2022)
- Последняя версия
- ASTM C1371-15(2022)
- сфера применения
- 5.1&# Испытание поверхностной эмиттанса:&# 5.1.1. Теплоотдача от поверхности за счет передачи излучения снижается, если поверхность материала имеет низкий коэффициент излучения. Поскольку контролирующим фактором при использовании изоляции иногда является контроль конденсации или защита персонала, важно понимать, что низкий коэффициент излучения изменит температуру поверхности материала. Одним из возможных критериев выбора этих материалов является вопрос влияния старения на поверхностный эмиттанс. Если первоначальный низкий поверхностный эмиттанс материала не поддерживается во время эксплуатации, долгосрочная ценность материала снижается. 5.1.2 Этот метод испытаний обеспечивает средства для сравнительного периодического испытания поверхностей с низким эмиттансом в полевых условиях. Таким образом, можно отслеживать влияние старения на отражающие свойства. 5.1.3 Этот метод испытаний определяет общий полусферический излучатель с точностью лучше &##x00b1;0,02 единицы. (1) Эмиттансы калибровочных эталонов должны быть получены в результате точных независимых измерений общего полусферический излучатель. Этот метод испытаний не следует использовать для образцов, которые сильно анизотропны или прозрачны для инфракрасного излучения. Этот метод испытаний также не следует использовать для образцов со значительным термическим сопротивлением (см. 7.3.4). 5.1.4. После определения надежного измерения излучательной способности это значение можно использовать для расчета радиационного теплового потока от поверхности объекта. Например, если известны температура поверхности T1 и температура окружающей среды T2, то радиационный тепловой поток Qrad определяется по формуле: где A — площадь поверхности, и предполагается, что либо A быть намного меньше площади окружающей среды, или эмиттанс окружающей среды предполагается равным единице. Этот радиационный тепловой поток в сочетании с конвективными и кондуктивными тепловыми потоками обеспечивает общий тепловой поток от поверхности (метод расчета общего теплового потока описан в Практике C680). 1.1. Настоящий метод испытаний охватывает методику определения эмиттанса непрозрачных материалов с высокой теплопроводностью с использованием портативного дифференциального термоэлектрического эмиссометра. Целью метода испытаний является предоставление сравнительных средств количественного определения излучательной способности материалов при температуре, близкой к комнатной. 1.2 Этот метод испытаний не заменяет метод испытаний C835, который является абсолютным...
ASTM C1371-15 Ссылочный документ
- ASTM C168 Стандартная терминология, касающаяся теплоизоляции
- ASTM C680 Стандартная практика определения притока или потери тепла и температуры поверхности изолированных систем труб и оборудования с использованием компьютерной программы
- ASTM C835 Стандартный метод испытаний на общую полусферическую эмиттанс поверхностей до 1400°C
- ASTM E177 Стандартная практика использования терминов «точность» и «предвзятость» в методах испытаний ASTM
- ASTM E408 Стандартные методы испытаний общей нормальной эмиттанса поверхностей с использованием методов контрольно-измерительного прибора
- ASTM E691 Стандартная практика проведения межлабораторного исследования для определения точности метода испытаний
ASTM C1371-15 История
- 2022 ASTM C1371-15(2022) Стандартный метод испытаний для определения эмиттанса материалов при температуре, близкой к комнатной, с использованием портативных эмиссометров
- 2015 ASTM C1371-15 Стандартный метод испытаний для определения эмиттанса материалов при температуре, близкой к комнатной, с использованием портативных эмиссометров
- 2004 ASTM C1371-04a(2010)e1 Стандартный метод испытаний для определения эмиттанса материалов при температуре, близкой к комнатной, с использованием портативных эмиссометров
- 2004 ASTM C1371-04a Стандартный метод испытаний для определения эмиттанса материалов при температуре, близкой к комнатной, с использованием портативных эмиссометров
- 2004 ASTM C1371-04 Стандартный метод испытаний для определения эмиттанса материалов при температуре, близкой к комнатной, с использованием портативных эмиссометров
- 1998 ASTM C1371-98 Стандартный метод испытаний для определения эмиттанса материалов при температуре, близкой к комнатной, с использованием портативных эмиссометров
