ASTM C1371-04a(2010)e1 Стандартный метод испытаний для определения эмиттанса материалов при температуре, близкой к комнатной, с использованием портативных эмиссометров
Испытание поверхностной эмиттанса: теплопередача теплового излучения снижается, если поверхность материала имеет низкую эмиттанс. Поскольку контролирующим фактором при использовании изоляции иногда является контроль конденсации или защита персонала, важно отметить, что низкий коэффициент излучения также приводит к изменению температуры поверхности материала. Одним из возможных критериев выбора этих материалов является вопрос влияния старения на поверхностный эмиттанс. Если первоначальный низкий поверхностный эмиттанс материала не поддерживается во время эксплуатации, долгосрочная ценность материала снижается. Этот метод испытаний обеспечивает средства для сравнительного периодического тестирования поверхностей с низким эмиттансом в полевых условиях. Таким образом, можно отслеживать влияние старения на отражающие свойства. Этот метод испытаний можно использовать для измерения общего эмиттанса полусферы с точностью лучше &#±0,02 единицы, если принять некоторые меры предосторожности, чтобы избежать потенциальных ошибок в применении. (1) Эмиттансы калибровочных эталонов должны быть получены путем точных независимых измерений общего эмиттанса полусферы. Этот метод испытаний не следует использовать для образцов, которые сильно анизотропны или прозрачны для инфракрасного излучения. Этот метод испытаний также не следует использовать для образцов со значительным термическим сопротивлением (см. 7.3.4). 1.1 Этот метод испытаний охватывает методику определения эмиттанса типичных материалов с использованием портативного дифференциального эмиссометра на термобатарее. Целью метода испытаний является предоставление сравнительных средств количественного определения эмиттанса непрозрачных материалов с высокой теплопроводностью вблизи комнатной температуры в качестве параметра при оценке температур, тепловых потоков и полученного термического сопротивления материалов. 1.2 Настоящий метод испытаний не заменяет Метод испытаний C835, который является абсолютным методом определения общего излучателя полусферы, или Метод испытаний E408, который включает два сравнительных метода определения общего нормального излучателя. Благодаря уникальной конструкции портативного эмиссометра его можно калибровать для измерения общего эмиттанса полусферы. Это подтверждается сравнением измерений эмиссометра с измерениями Метода испытаний C835 (1). 1.3 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.
ASTM C1371-04a(2010)e1 История
2022ASTM C1371-15(2022) Стандартный метод испытаний для определения эмиттанса материалов при температуре, близкой к комнатной, с использованием портативных эмиссометров
2015ASTM C1371-15 Стандартный метод испытаний для определения эмиттанса материалов при температуре, близкой к комнатной, с использованием портативных эмиссометров
2004ASTM C1371-04a(2010)e1 Стандартный метод испытаний для определения эмиттанса материалов при температуре, близкой к комнатной, с использованием портативных эмиссометров
2004ASTM C1371-04a Стандартный метод испытаний для определения эмиттанса материалов при температуре, близкой к комнатной, с использованием портативных эмиссометров
2004ASTM C1371-04 Стандартный метод испытаний для определения эмиттанса материалов при температуре, близкой к комнатной, с использованием портативных эмиссометров
1998ASTM C1371-98 Стандартный метод испытаний для определения эмиттанса материалов при температуре, близкой к комнатной, с использованием портативных эмиссометров