BS ISO 19606:2017 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Метод определения шероховатости поверхности тонких керамических пленок методом атомно-силовой микроскопии
ISO 11039 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Измерение скорости дрейфа.
ISO 11775 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение констант нормальной пружины кантилевера.
ISO 11952 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью СЗМ. Калибровка измерительных систем.*, 2019-05-21 Обновление
ISO 18115-2 Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.*, 2021-12-21 Обновление
ISO 25178-2 Геометрические характеристики изделия (GPS). Текстура поверхности: площадь. Часть 2. Термины, определения и параметры текстуры поверхности.*, 2021-12-20 Обновление
ISO 25178-3 Геометрические спецификации продукта (GPS). Текстура поверхности: площадь. Часть 3. Операторы спецификации.
ISO 4287 Геометрические спецификации продукции (GPS) - Текстура поверхности: метод профиля - Термины, определения и параметры текстуры поверхности; Техническое исправление 2
ISO 4288 Геометрические спецификации продукции (GPS) – Текстура поверхности: Метод профиля – Правила и процедуры оценки текстуры поверхности; Техническое исправление 1
BS ISO 19606:2017 История
2017BS ISO 19606:2017 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Метод определения шероховатости поверхности тонких керамических пленок методом атомно-силовой микроскопии