ISO 19606:2017 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика) - Метод определения шероховатости поверхности тонких керамических пленок методом атомно-силовой микроскопии. - Стандарты и спецификации PDF

ISO 19606:2017
Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика) - Метод определения шероховатости поверхности тонких керамических пленок методом атомно-силовой микроскопии.

Стандартный №
ISO 19606:2017
Дата публикации
2017
Разместил
International Organization for Standardization (ISO)
Последняя версия
ISO 19606:2017

ISO 19606:2017 Ссылочный документ

  • ISO 11039:2012 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Измерение скорости дрейфа.
  • ISO 11775:2015 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение констант нормальной пружины кантилевера.
  • ISO 11952:2014 Химический анализ поверхности - Сканирующая зондовая микроскопия - Определение геометрических величин с помощью СЗМ: Калибровка измерительных систем
  • ISO 16610-21:2011 Геометрические характеристики продукта (GPS). Фильтрация. Часть 21. Фильтры с линейным профилем: фильтры Гаусса.
  • ISO 18115-2:2013 Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
  • ISO 25178-2:2012 Геометрические характеристики изделия (GPS). Текстура поверхности: площадь. Часть 2: Термины, определения и параметры текстуры поверхности.
  • ISO 25178-3:2012 Геометрические спецификации продукта (GPS). Текстура поверхности: площадь. Часть 3. Операторы спецификации.
  • ISO 4287:1997 Геометрическая спецификация продукта (GPS) - Текстура поверхности: метод профиля - Термины, определения и параметры текстуры поверхности
  • ISO 4288:1996 Геометрические спецификации продукции (GPS). Текстура поверхности: метод профиля. Правила и процедуры оценки текстуры поверхности.

ISO 19606:2017 История

  • 2017 ISO 19606:2017 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика) - Метод определения шероховатости поверхности тонких керамических пленок методом атомно-силовой микроскопии.



© 2023. Все права защищены.