BS ISO 16700:2016
Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения
- Стандартный №
- BS ISO 16700:2016
- Дата публикации
- 2016
- Разместил
- British Standards Institution (BSI)
- Последняя версия
- BS ISO 16700:2016
- заменять
- BS ISO 16700:2004
BS ISO 16700:2016 Ссылочный документ
- ISO 5725-1 Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. Часть 1. Общие принципы и определения.*， 2023-07-01 Обновление
- ISO Guide 30 Справочные материалы - Избранные термины и определения
- ISO Guide 34 Общие требования к компетентности производителей стандартных образцов
- ISO Guide 35 Сертификация стандартных образцов. Общие и статистические принципы*， 2017-08-21 Обновление
- ISO/IEC 17025:2005 Общие требования к компетентности испытательных и калибровочных лабораторий
- ISO/IEC Guide 98-3 Неопределенность измерения - Руководство по выражению неопределенности измерения (ГУМ:1995). Расширение на любое количество выходных величин
BS ISO 16700:2016 История
- 2016 BS ISO 16700:2016 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения
- 2004 BS ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
