ASTM E1362-15
Стандартные методы испытаний для калибровки фотоэлектрических непервичных эталонных ячеек без концентратора

Стандартный №

ASTM E1362-15

Дата публикации

2015

Разместил

American Society for Testing and Materials (ASTM)

состояние

быть заменен

быть заменен

ASTM E1362-15(2019)

Последняя версия

ASTM E1362-15(2019)

сфера применения

5.1 Целью данных методов испытаний является предоставление признанной процедуры калибровки, определения характеристик и представления данных калибровки для непервичных фотоэлектрических эталонных элементов, которые используются во время измерений характеристик фотоэлектрических устройств. 5.2.Электрическая мощность фотоэлектрических устройств зависит от спектрального состава источника освещения и его интенсивности. Для проведения точных измерений характеристик фотоэлектрических устройств при различных источниках света необходимо учитывать погрешность тока короткого замыкания, возникающую, если относительный спектральный отклик эталонного элемента не идентичен спектральному отклику эталонного элемента. тестируемое устройство. Аналогичная ошибка возникает, если спектральное распределение освещенности тестового источника света не идентично желаемому эталонному спектральному распределению освещенности. Эти ошибки количественно оцениваются с помощью параметра спектрального несоответствия M (метод испытаний E973). 5.2.1&# Метод испытаний E973 требует четырех величин для расчета спектрального несоответствия: 5.2.1.1&# Квантовая эффективность эталонной ячейки, подлежащей калибровке (см. 7.1.1), 5.2.1.2&# — Квантовая эффективность калибровочного источника (требуется как часть его калибровки), Примечание 1: 　——См. 10.10 Метода испытаний E1021 для определения идентичности, которая преобразует спектральную чувствительность в квантовую эффективность. 5.2.1.3 - Спектральная освещенность источника света (измеренная с помощью оборудования для измерения спектральной освещенности) и 5.2.1.4 - Эталонное спектральное распределение освещенности, по которому было откалибровано калибровочное устройство источника света. (см. G173). 5.2.2 Температурные поправки. Метод испытаний E973 обеспечивает средства температурной коррекции тока короткого замыкания с использованием частной производной квантовой эффективности по температуре. 5.3. Неосновная эталонная ячейка калибруется в соответствии с этими методами испытаний по отношению к тому же эталонному спектральному распределению излучения, что и калибровочное исходное устройство. Первичные эталонные ячейки можно калибровать с использованием метода испытаний E1125. Примечание 2: В настоящее время не существует стандартов ASTM для калибровки первичных эталонных ячеек по внеземному спектральному распределению излучения. 5.4&# Неосновная эталонная ячейка должна быть записана......

ASTM E1362-15 Ссылочный документ

• ASTM E1021 Стандартные методы испытаний для измерения спектрального отклика фотоэлектрических элементов
• ASTM E1040 Стандартные спецификации на физические характеристики наземных фотоэлектрических эталонных элементов без концентратора
• ASTM E1125  Стандартный метод испытаний для калибровки первичных наземных фотоэлектрических эталонных элементов без концентратора с использованием табличного спектра
• ASTM E1143 Стандартный метод испытаний для определения линейности параметра фотоэлектрического устройства относительно испытательного параметра
• ASTM E490 Таблицы спектральной солнечной радиации стандартной солнечной постоянной и нулевой воздушной массы
• ASTM E691 Стандартная практика проведения межлабораторного исследования для определения точности метода испытаний
• ASTM E772 Стандартная терминология, касающаяся преобразования солнечной энергии
• ASTM E816 Стандартный метод испытаний для калибровки пиргелиометров путем сравнения с эталонными пиргелиометрами
• ASTM E927 Стандартные спецификации для моделирования солнечной энергии для испытаний наземных фотоэлектрических систем
• ASTM E948 Стандартный метод испытаний электрических характеристик фотоэлектрических элементов с использованием эталонных элементов под воздействием искусственного солнечного света
• ASTM E973 Метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
• ASTM G173 Стандартные таблицы для эталонного солнечного спектрального излучения: прямое нормальное и полусферическое на поверхности, наклоненной на 37°.

ASTM E1362-15 История

• 2019 ASTM E1362-15(2019) Стандартные методы испытаний для калибровки фотоэлектрических непервичных эталонных ячеек без концентратора
• 2015 ASTM E1362-15 Стандартные методы испытаний для калибровки фотоэлектрических непервичных эталонных ячеек без концентратора
• 2010 ASTM E1362-10 Стандартный метод испытаний для калибровки фотоэлектрических вторичных эталонных ячеек без концентратора
• 2005 ASTM E1362-05 Стандартный метод испытаний для калибровки фотоэлектрических вторичных эталонных ячеек без концентратора
• 1999 ASTM E1362-99 Стандартный метод испытаний для калибровки фотоэлектрических вторичных эталонных ячеек без концентратора