KS C IEC 60749-14:2006
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 14. Надежность выводов (целостность выводов).

Стандартный №

KS C IEC 60749-14:2006

Дата публикации

2006

Разместил

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

состояние

быть заменен

быть заменен

KS C IEC 60749-14-2006(2016)

Последняя версия

KS C IEC 60749-14-2006(2021)

сфера применения

В этой спецификации указаны интерфейс вывода/корпуса и сопутствующие выводы при сборке дефектных плат.

KS C IEC 60749-14:2006 История

• 0000 KS C IEC 60749-14-2006(2021)
• 0000 KS C IEC 60749-14-2006(2016)
• 2006 KS C IEC 60749-14:2006 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 14. Надежность выводов (целостность выводов).