KS C IEC 60749-14-2006(2021) Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 14. Надежность выводов (целостность выводов).
2006KS C IEC 60749-14:2006 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 14. Надежность выводов (целостность выводов).