KS C 6049-1980 Методы испытаний на воздействие окружающей среды и методы испытаний на долговечность полупроводниковых интегральных схем - Стандарты и спецификации PDF

KS C 6049-1980
Методы испытаний на воздействие окружающей среды и методы испытаний на долговечность полупроводниковых интегральных схем

Стандартный №
KS C 6049-1980
Дата публикации
1980
Разместил
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
состояние
быть заменен
KS C 6049-1980(2020)
Последняя версия
KS C 6049-1980(2020)
сфера применения
Этот стандарт в основном охватывает использование интегральных схем (за исключением гибридных интегральных схем), используемых в электронных устройствах промышленного и потребительского назначения.

KS C 6049-1980 История

  • 0000 KS C 6049-1980(2020)
  • 1980 KS C 6049-1980 Методы испытаний на воздействие окружающей среды и методы испытаний на долговечность полупроводниковых интегральных схем



© 2023. Все права защищены.