KS C 6049-1980(2020) Методы испытаний на воздействие окружающей среды и методы испытаний на долговечность полупроводниковых интегральных схем - Стандарты и спецификации PDF

KS C 6049-1980(2020)
Методы испытаний на воздействие окружающей среды и методы испытаний на долговечность полупроводниковых интегральных схем

Стандартный №
KS C 6049-1980(2020)
Дата публикации
1980
Разместил
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
Последняя версия
KS C 6049-1980(2020)

KS C 6049-1980(2020) История

  • 0000 KS C 6049-1980(2020)
  • 1980 KS C 6049-1980 Методы испытаний на воздействие окружающей среды и методы испытаний на долговечность полупроводниковых интегральных схем



© 2023. Все права защищены.