GB/T 18907-2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа. (Англоязычная версия)
Настоящий стандарт определяет метод электронографического анализа выбранной области микронных и субмикронных областей тонких кристаллических образцов с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ). Образцы для испытаний могут быть получены из тонких срезов различных металлических или неметаллических материалов, а также могут быть использованы мелкодисперсные порошки или извлеченные образцы-копии. Минимальный диаметр выбранной области образца, которую можно проанализировать этим методом, зависит от коэффициента сферической аберрации объектива микроскопа. Для современных ТЭМ минимальный диаметр выделенного участка образца обычно может достигать 0,5 мкм. При диаметре анализируемой области образца менее 0,5 мкм все еще можно использовать метод анализа настоящего стандарта, но из-за влияния сферической аберрации часть информации о дифракционном спектре может поступать извне. область, ограниченная выбранной диафрагмой. В этом случае, если позволяют условия, лучше всего использовать микро (нано) дифракцию или дифракцию электронов сходящимся пучком. Успешное применение выбранного метода зональной электронографии зависит от правильной калибровки полученного показателя дифракционного спектра независимо от того, ось какой кристаллической зоны образца параллельна падающему электронному пучку. Поэтому такой анализ часто требует использования устройства наклона и вращения образца. Этот стандарт применим для получения спектра SAED из образца кристалла, калибровки показателя дифракционного спектра и калибровки константы дифракции электронного микроскопа.
GB/T 18907-2013 Ссылочный документ
ISO/IEC 17025 Общие требования к компетентности испытательных и калибровочных лабораторий*, 2017-11-29 Обновление
GB/T 18907-2013 История
2013GB/T 18907-2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
2002GB/T 18907-2002 Метод дифракции выбранных участков электронов для просвечивающих электронных микроскопов