GB/T 18907-2002
Метод дифракции выбранных участков электронов для просвечивающих электронных микроскопов (Англоязычная версия)
- Стандартный №
- GB/T 18907-2002
- язык
- Китайский, Доступно на английском
- Дата публикации
- 2002
- Разместил
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- состояние
- 2014-03
- быть заменен
- GB/T 18907-2013
- Последняя версия
- GB/T 18907-2013
- сфера применения
- Настоящий стандарт определяет метод электронографического анализа выбранных участков микронных участков тонких кристаллических образцов методом просвечивающей электронной микроскопии. Этот метод подходит для электронографического анализа различных тонких кристаллических пленок металлов и неметаллов (включая образцы порошков и извлеченные образцы-реплики). Наименьшая область образца, которую можно проанализировать, имеет диаметр 1 мкм. Данные о кристаллической симметрии, постоянной решетки и типе решетки Браве образца можно получить с помощью спектра дифракции электронов. Константу дифракции просвечивающего электронного микроскопа можно определить, используя спектр дифракции электронов известной кристаллической тонкой пленки. Когда диаметр анализируемой области образца составляет менее 1 мкм, это можно реализовать по ссылке.
GB/T 18907-2002 История
- 2013 GB/T 18907-2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- 2002 GB/T 18907-2002 Метод дифракции выбранных участков электронов для просвечивающих электронных микроскопов
