DS/EN 60749-4:2003
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 4. Влажное тепло, стационарное состояние, высокоускоренное испытание под нагрузкой (HAST).

Стандартный №

DS/EN 60749-4:2003

Дата публикации

2003

Разместил

Danish Standards Foundation

состояние

быть заменен 2003-12

быть заменен

DS/EN 60749-4/Corr.1:2004

Последняя версия

DS/EN 60749-4/Corr.1:2004

сфера применения

В этой части стандарта IEC 60749 предусмотрены ускоренные испытания на воздействие температуры и влажности (HAST) с целью оценки надежности полупроводниковых приборов в негерметичном корпусе во влажной среде.

DS/EN 60749-4:2003 История

• 2004 DS/EN 60749-4/Corr.1:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 4. Влажное тепло, стационарное состояние, высокоускоренное испытание под нагрузкой (HAST).
• 2003 DS/EN 60749-4:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 4. Влажное тепло, стационарное состояние, высокоускоренное испытание под нагрузкой (HAST).