DS/EN 60749-4/Corr.1:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 4. Влажное тепло, стационарное состояние, высокоускоренное испытание под нагрузкой (HAST).
В этой части стандарта IEC 60749 предусмотрены ускоренные испытания на воздействие температуры и влажности (HAST) с целью оценки надежности полупроводниковых приборов в негерметичном корпусе во влажной среде.
DS/EN 60749-4/Corr.1:2004 История
2004DS/EN 60749-4/Corr.1:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 4. Влажное тепло, стационарное состояние, высокоускоренное испытание под нагрузкой (HAST).
2003DS/EN 60749-4:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 4. Влажное тепло, стационарное состояние, высокоускоренное испытание под нагрузкой (HAST).